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赫爾納供應(yīng)英國(guó)Jandel四探針探頭電阻率測(cè)量
赫爾納供應(yīng)，德國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對(duì)一的解決方案：貨期穩(wěn)定，報(bào)價(jià)快，價(jià)格優(yōu)，在中國(guó)設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)。
英國(guó)Jandel四探針探頭產(chǎn)品介紹：
Jandel Engineering Limited是一家成立于1967年的英國(guó)私營(yíng)企業(yè)，總部位于倫敦北部盧頓附近的Leighton Buzzard 。公司創(chuàng)始人John Clark曾在倫敦A&M Fell公司工作期間，與同事共同設(shè)計(jì)了一款商用四探針探頭——“Fell"探頭 。Jandel成立初期的產(chǎn)品是電解式濕度計(jì)單元，至今仍是英國(guó)該配件的生產(chǎn)廠家 。1968年，公司進(jìn)入半導(dǎo)體行業(yè)，開(kāi)始設(shè)計(jì)和制造手動(dòng)操作的半導(dǎo)體和薄膜測(cè)量系統(tǒng)以及電子式電流電壓表 。經(jīng)過(guò)五十余年的發(fā)展，Jandel已成為四探針測(cè)試儀和電阻率測(cè)量領(lǐng)域的技術(shù)型企業(yè)，其探頭產(chǎn)品由經(jīng)過(guò)至少六年培訓(xùn)的經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師手工制造 。公司主要服務(wù)于半導(dǎo)體行業(yè)、大學(xué)實(shí)驗(yàn)室及研究應(yīng)用，提供高質(zhì)量的探頭探針和臺(tái)式電阻率測(cè)量設(shè)備 。
主要產(chǎn)品：
四探針探頭
可調(diào)節(jié)高度自動(dòng)探頭 (AFPP)
手動(dòng)探針臺(tái)
電阻率測(cè)量設(shè)備 (如RM3000)
電解濕度計(jì)電池
探針
英國(guó)Jandel四探針探頭電阻率測(cè)量主要型號(hào)：
AFPP (可調(diào)節(jié)高度自動(dòng)探頭)
cartridge型四探針探頭
KLA兼容探頭
CDE ResMap兼容探頭
AIT兼容探頭
Napson兼容探頭
Veeco兼容探頭
Alessi兼容探頭
產(chǎn)品介紹：
四探針探頭 (Four-Point Probe Heads)
Jandel的四探針探頭是其核心產(chǎn)品，用于測(cè)量材料的薄層電阻和體電阻率 。
技術(shù)參數(shù) ：
探針間距：可選0.500mm、0.635mm、1.00mm、1.27mm、1.591mm（公差±10μm）。
探針排列：線性排列或方形（矩形）排列。
探針針尖材質(zhì)：標(biāo)準(zhǔn)為碳化鎢（直徑0.4mm），可選50%鋨合金。
針尖半徑曲率：可選12.5μm、25μm、40μm、100μm、150μm、200μm、300μm、500μm。
針尖壓力：每根探針的壓力可在10g至250g之間設(shè)定。
平面度：針尖平面度可達(dá)±0.025mm或更好。
絕緣電阻：在500V電壓下，兩針之間的電阻高達(dá)1013Ω。
導(dǎo)向結(jié)構(gòu)：上下導(dǎo)向裝置均采用寶石軸承，確保探針平滑垂直移動(dòng) 。
工作原理：四探針技術(shù)基于四點(diǎn)接觸測(cè)量原理。外側(cè)兩個(gè)探針通以恒定電流，內(nèi)側(cè)兩個(gè)探針測(cè)量電壓，通過(guò)電壓與電流的比值結(jié)合樣品幾何修正系數(shù)，計(jì)算出材料的電阻率或薄層電阻。
AFPP (可調(diào)節(jié)高度自動(dòng)探頭)
AFPP是一款專為四點(diǎn)探針測(cè)量設(shè)計(jì)的自動(dòng)Z軸運(yùn)動(dòng)裝置，可與探針臺(tái)配合使用 。
技術(shù)參數(shù) ：
可測(cè)晶片直徑：≤300mm。
可測(cè)樣品厚度：≤250mm（可定制更高）。
控制方式：具有樣品接觸傳感器，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)停止；支持手動(dòng)和遠(yuǎn)程控制。
電源：可使用獨(dú)立電源適配器，或通過(guò)Jandel RM3000電阻率測(cè)量?jī)x單線連接供電和控制。
系統(tǒng)組成：包含測(cè)試臺(tái)、AFPP主機(jī)、可調(diào)節(jié)高度軸桿、四探針探頭及連接電纜。
工作原理：AFPP通過(guò)電機(jī)驅(qū)動(dòng)探針頭自動(dòng)向下移動(dòng)，當(dāng)探針接觸到樣品表面時(shí)，集成的傳感器會(huì)檢測(cè)到接觸并自動(dòng)停止，從而保護(hù)探針和樣品，并實(shí)現(xiàn)可重復(fù)的測(cè)量高度。
cartridge型四探針探頭（兼容CDE系統(tǒng)）
這是一款專門(mén)設(shè)計(jì)用于與CDE (Control Data Corporation) 系統(tǒng)兼容的探頭，具有6個(gè)連接通道 。
技術(shù)參數(shù)：與標(biāo)準(zhǔn)四探針探頭基本一致，但設(shè)計(jì)上與KLA/Tencor/Prometrix等工具不直接替換，需注意區(qū)分使用 。
工作原理：其電氣連接方式和機(jī)械接口經(jīng)過(guò)特別設(shè)計(jì)，確保能夠與CDE ResMap等特定型號(hào)的電阻率測(cè)試儀精確匹配，實(shí)現(xiàn)即插即用的測(cè)量。
優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)
制造精度：所有探頭在出廠前均經(jīng)過(guò)視頻檢測(cè)系統(tǒng)和光學(xué)干涉儀檢驗(yàn)，以驗(yàn)證針尖半徑曲率、間距和平面度的規(guī)范 。彈簧負(fù)載通過(guò)電子測(cè)力計(jì)校準(zhǔn)，確保每根探針的壓力符合標(biāo)準(zhǔn) 。
材料選擇：探針針尖采用實(shí)心碳化鎢制成，保證了使用的耐久性和精度 。根據(jù)應(yīng)用需求，還可選用50%鋨合金材質(zhì) 。
導(dǎo)向結(jié)構(gòu)：探針內(nèi)部使用寶石作為上下導(dǎo)向軸承，這種設(shè)計(jì)使探針在伸縮時(shí)平滑順暢，減少了摩擦和側(cè)向力，提高了測(cè)量的穩(wěn)定性和探針壽命 。
高絕緣性能：采用特氟龍絕緣材料，使得探針之間的漏電電流極低（兩針間電阻在500V時(shí)可達(dá)1013Ω），適合測(cè)量高阻材料 。
廣泛的定制選項(xiàng)：針對(duì)不同材料和測(cè)量需求，提供多種針尖半徑、壓力、間距和針頭材質(zhì)的組合 。同時(shí)，生產(chǎn)多種形狀的探頭以適配不同品牌（如KLA、CDE、Napson等）的現(xiàn)有設(shè)備 。
應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體行業(yè)：用于測(cè)量硅晶圓、外延層、擴(kuò)散層、離子注入層等材料的薄層電阻和電阻率，是半導(dǎo)體工藝監(jiān)控和質(zhì)量控制的重要工具 。
大學(xué)與研究實(shí)驗(yàn)室：用于材料科學(xué)研究中測(cè)量薄膜、導(dǎo)電涂層、金屬、半導(dǎo)體材料的基本電學(xué)性質(zhì) 。
薄膜與涂層工業(yè)：測(cè)量太陽(yáng)能電池薄膜、平板顯示器、光學(xué)涂層、導(dǎo)電聚合物等的薄層電阻均勻性 。
材料測(cè)試：評(píng)估塊狀材料（如硅錠、鍺錠）的體電阻率，以及分析材料在不同條件下的電學(xué)性能變化 。
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